更新時間:2024-07-15
CSK-IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測試斜探頭折射角的刻度面。
一、CSK-1A超聲波檢測試塊技術(shù)參數(shù):
名稱:標準試塊
型號規(guī)格:CSK-IA
執(zhí)行標準JB/T4730-2005
材質(zhì):45號鋼
毛坯種類:鍛打件
熱處理狀態(tài):正火處理。
二、超聲波標準試塊檢測報告
超聲波標準試塊檢測報告 | |||
1 | 本體材料化學成分 | 主要化學成分應符合GB699 | 合格 |
2 | 本體材料晶粒度 | 本材料經(jīng)正火處理后,晶粒度應達到7級以上。 | 合格 |
3 | 本材料內(nèi)部缺陷 | 使用5MHZ直探頭,對試塊進行接觸法超聲波探傷,不得出現(xiàn)大于對比試塊DB-PZ2-2平底孔回波幅度1/4的缺陷回波。 | 合格 |
4 | 折射角度偏差 | 使用2.5MHZ、折射角為45度的斜探頭檢測時,不得超出±2度 | 合格 |
5 | 有機玻璃鑲嵌件縱波傳播時間 | 長溫下,有機玻璃23mm厚度縱波傳播時間相當與20(45)號鋼50mm厚度的縱波時間 | 合格 |
6 | R100圓弧面中心位置偏差 | 使用2.5MHZT 5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出±0.5mm | 合格 |
7 | R100圓弧面回波幅度偏差 | 使用2.5MHZ和 5MHZ的斜探頭檢測時,不得超出1.5dB | 合格 |
8 | 外觀及表面粗糙度 | 外觀光滑無明顯劃傷,碰傷,銹蝕等缺陷,表面粗糙度探測面不得低于Ra3.2,其余Ra6.3 | 合格 |
9 | 幾何尺寸,行位公差 | 尺寸.公差±0.1 | 合格 |
三、使用要點:
1)利用厚度25mm測定探傷儀的水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;
2)利用厚度25mm和高度100mm調(diào)整縱波探測范圍;
3)利用R50和R100校定時基線或測定斜探頭的入射點;
4)利用高度85、91、100ram測定直探頭的分辨力;
5)利用中40、中44、中50ram曲面測定斜探頭的分辨力;
6)利用中50有機玻璃圓孔測定直探頭盲區(qū)和穿透能力;
7)利用中50曲面和巾1.5橫孔測定斜探頭的K值;
8)利用高度9lmm(縱波聲程9lmm相當于橫波50mm)調(diào)節(jié)橫波1:1掃描速度,配合R100作零位校正;
9)、利用試塊直角棱邊測定斜探頭的聲軸偏斜角。