更新時(shí)間:2024-07-14
由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低,他們的測量采用四端接線法。為了滿足實(shí)際的需要,本儀器采用四探針法原理來實(shí)現(xiàn)對(duì)不同金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子材料的電阻及電阻率的測量??捎糜诟咝N锢斫逃龑?shí)驗(yàn),對(duì)導(dǎo)體/半導(dǎo)體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究。
一、產(chǎn)品用途:
(1) 金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子薄膜(塊體)電阻率的測量;
(2) 金屬薄膜材料電阻率的測量(zui大厚度0.2毫米);金屬塊體材料電阻率的測量(zui大厚度6毫米)
二、儀器組成:
1、 四探針組件
由具有引線的四根探針組成。
2、 SB118精密直流電流源
輸出電流10-6~0.2安培范圍內(nèi)可調(diào)。
3、 直流數(shù)字電壓表
直流數(shù)字電壓表是具有6位半字長、0.1為微伏電壓分辨率的帶單片微機(jī)處理技術(shù)的高精度電子測量儀器。
三技術(shù)參數(shù):
由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低,它們的測量采用四端接線法。為了滿足實(shí)際的需要,本儀器采用四探針法原理來實(shí)現(xiàn)對(duì)不同金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子材料的電阻率的測量。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達(dá)10-6—106Ω。
(使用環(huán)境5—40℃,相對(duì)濕度<80%,供電220V 50Hz,為實(shí)驗(yàn)室環(huán)境使用)
由直流電壓電流源、直流數(shù)字電壓表、四探針樣品測試平臺(tái)三部分組成。
直流電壓電流源:
是一臺(tái)4?位的電壓源及電流源,既可輸出5μV—50V,5檔可調(diào)電壓,基本誤差為±(0.1%RD+0.02%FS)又可輸出1nA—100mA,5檔可調(diào)電流,基本誤差為±(0.03%RD+0.02%FS)。
直流數(shù)字電壓表:具有6?位字長,0.1μV電壓分辨力的帶單片危機(jī)處理技術(shù)的高精度電子測量儀器,可測量0-1000V直流電壓?;玖砍痰幕菊`差為±(0.002%RD+0.0005%FS),詳見本公司產(chǎn)品PZ158A。
四探針樣品測試平臺(tái):該測試平臺(tái)是SB120/1測試平臺(tái)的改進(jìn)型。其有底座、支架、旋動(dòng)部件、樣品平臺(tái)、四探針及接線板等組成。由于其整個(gè)結(jié)構(gòu)及旋動(dòng)方式都在原SB120/1的基礎(chǔ)上作了很大的改進(jìn),故在高校的物理實(shí)驗(yàn)及科學(xué)研究總為導(dǎo)體/半導(dǎo)體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便。