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單刻線樣板
玻璃單刻線樣板由光學(xué)玻璃經(jīng)過光學(xué)加工而成，用于檢定觸針式表面粗糙度測量儀的垂直放大倍率，表面粗糙度干涉測量儀和光切式測量儀的示值誤差。規(guī)格型號以溝槽深度值H而定，每套包含的規(guī)格為0.15μm、0.7μm、1.2μm、4.7μm、15μm、50μm，也可按照用戶要求定做其它規(guī)格。含國防科技工業(yè)*計量測試研究中心檢定證書。
玻璃多刻線樣板
玻璃多刻線樣板由光學(xué)玻璃經(jīng)過光學(xué)加工而成，中間有一小塊長方形工作區(qū)域，區(qū)域內(nèi)有許多并列平行的刻線。其主要用于檢定觸針式電動輪廓儀Ra示值誤差、儀器示值的重復(fù)性和示值穩(wěn)定性。
主要技術(shù)指標(biāo)：
型號規(guī)格：可生產(chǎn)符合多刻線樣板檢定規(guī)程要求的Ra在0~10μm之間的所有尺寸。
常用套裝包含的規(guī)格尺寸有0.05μm、0.1μm、0.2μm、0.4μm、0.8μm、1.6μm、2.4μm、3.2μm、6.3μm，也可按照用戶要求定做其它規(guī)格。含國防科技工業(yè)*計量測試研究中心檢定證書。
玻璃線紋尺和刻線尺
用途及特性介紹：標(biāo)準(zhǔn)玻璃線紋尺選用穩(wěn)定性好，且由線膨脹系數(shù)與金屬接近的光學(xué)玻璃或石英玻璃制造，表面上準(zhǔn)確的刻有等間距平行線，用于檢定工具顯微鏡、線紋比較儀、影像測量儀等精密計量儀器。
要技術(shù)指標(biāo)：標(biāo)準(zhǔn)玻璃線紋尺有線間隔為0.01mm、0.1mm、1mm，精度滿足高等別線紋尺檢定規(guī)程JJG73-2005中的二等要求。
主要規(guī)格型號：可生產(chǎn)刻線間距zui小至0.01mm，長度zui長至400mm的標(biāo)準(zhǔn)玻璃線紋尺。現(xiàn)有的規(guī)格尺寸有1MM，10MM，50MM，75X，100MM，125X，200MM，200MX，300MM，400MM，也可按照用戶要求定做其它規(guī)格。除以上各種標(biāo)準(zhǔn)玻璃刻線尺外，還有300mm、400mm、500mm、600mm等比例尺。含國防科技工業(yè)*計量測試研究中心檢定證書。
正多面棱體
正多面棱體(以下簡稱棱體)是一種高準(zhǔn)確度的角度計量標(biāo)準(zhǔn)器具，是以各相鄰工作面法線間的夾角為等值測量角，并具有準(zhǔn)確角度量值的正多邊形的角度標(biāo)準(zhǔn)器具。棱體與自準(zhǔn)直儀配合，用來檢定圓分度儀器的分度誤差。在機(jī)械加工或精密測量中常用于角度分度或定位。
生產(chǎn)12面、17面、23面、24面、36面等二等、三等、四等不同精度等級的正多面棱體，含國防科技工業(yè)*計量測試研究中心檢定證書。
量塊是長度計量的實物基準(zhǔn)。用耐磨材料制造，橫截面為矩形，并具有一對相互平行測量面的實物量具。量塊的測量面可以和另一量塊的測量面相研合而組合使用，也可以和具有類似表面質(zhì)量的輔助體表面相研合而用于量塊長度的測量。
生產(chǎn)陶瓷量塊和金屬量塊。不同規(guī)格和等級的量塊均含國防科技工業(yè)*計量測試研究中心檢定證書。
金屬量塊主要有大五塊（600mm～1000mm）和大八塊（125mm～500mm），提供不同精度等級。
金屬量塊
陶瓷量塊
陶瓷量塊是用氧化鋯陶瓷材料經(jīng)過研磨加工而成的，由兩個相互平行的測量面之間的距離來確定其工作長度的高精度量具，可用于基準(zhǔn)傳遞、工作現(xiàn)場校準(zhǔn)和測量。具有硬度高、耐磨損、耐腐蝕，尺寸穩(wěn)定、研合性好、易保養(yǎng)和維護(hù)等特性，熱膨脹系數(shù)與鋼制材料比較接近，其使用壽命是鋼制量塊的5-10倍，硬度為HV1100，可替代鋼制量塊。
陶瓷量塊主要技術(shù)指標(biāo)：
可生產(chǎn)符合GB/T6093的0、1、2、3級的0.5～800mm各種陶瓷量塊。
量塊支架
量塊支架是專門針對三坐標(biāo)測量機(jī)應(yīng)用而設(shè)計的量塊安裝工裝。具有沿垂直方向上下移動、繞垂直方向旋轉(zhuǎn)、沿A1軸小角度旋轉(zhuǎn)調(diào)整等特點。
七筋工作臺由氧化鋯陶瓷材料經(jīng)過研磨制成，主要應(yīng)用于接觸式干涉儀和各種立式量塊測量儀。具有硬度高、耐磨損、韌性好、耐腐蝕、耐氧化，精度高，尺寸穩(wěn)定、易保養(yǎng)和維護(hù)等特點。我單位還有和同七筋工作臺配套使用的開槽量塊、開槽平晶。
厚度校準(zhǔn)片由無機(jī)材料加工而成，主要應(yīng)用于磁性、電渦流式覆層厚度測量儀的校準(zhǔn)，可提供符合JJG818-2005要求B級的產(chǎn)品。具體規(guī)格有：10μm，20μm，50μm，100μm，250μm，500μm，1000μm。
平面平晶
平面平晶由光學(xué)玻璃經(jīng)光學(xué)研磨而成，具有一個光學(xué)測量平面的正圓柱形。用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分卡尺等量具測量面的平面度，還可用于高精度平面加工過程中的檢驗。主要特點是，。
平面平晶主要技術(shù)指標(biāo)及型號規(guī)格：主要規(guī)格有Φ30mm、Φ60mm、Φ80mm、Φ100mm、Φ150mm，均滿足檢定規(guī)程中1級要求，其中Φ150mm平面平晶可滿足平面平晶檢定規(guī)程中二等要求。也可根據(jù)客戶要求定做其它規(guī)格。
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